CATEC
Innovación y Tecnología

Tomografía computerizada de rayos-x para la caracterización estructural y de fallos en materiales aeroespaciales


Martes, 20 de Septiembre 2011

Esta nueva tecnología, que CATEC emplea en su área de ensayos no destructivos, permite obtener un alto nivel de información de los componentes permitiendo además una cuantificación tridimensional de los mismos


Nota

Tomografía computerizada de rayos-x para la caracterización estructural y de fallos en materiales aeroespaciales
Uno de los métodos innovadores de inspección de fallos en los componentes aeroespaciales o de otros sectores tecnológicos con los que cuenta CATEC, dentro de su área de Ensayos No Destructivos, es la denominada tomografía computerizada de rayos-x. Con esta tecnología, CATEC trabaja en la caracterización estructural de los elementos aeronáuticos, mejorando las técnicas tradicionales de inspección que hoy resultan insuficientes para el control de calidad en este tipo de piezas y conjuntos.

Además, de localizar tanto defectos superficiales como sub-superficiales en una variada gama de materiales (metálicos o compuestos), la tomografía computerizada de rayos-x permite obtener un alto nivel de información de los componentes permitiendo además una cuantificación tridimensional de los mismos.

Esta nueva tecnología está demostrando unos resultados muy positivos, y al igual que con otras técnicas que aplica CATEC en el ámbito de los ensayos sin contacto con materiales, está a disposición de las empresas interesadas en realizar sus ensayos y pruebas en las instalaciones del centro.

Si quiere conocer más, contacte con materiales@catec.aero y pida una visita a nuestros Talleres.



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