CATEC
Innovación y Tecnología

CATEC colabora con la empresa ONTECH para el desarrollo de nuevas soluciones para inspecciones del pavimento en aeropuertos


Miércoles, 14 de Junio 2017

La iniciativa forma parte del proyecto APIA, que lidera la ingeniería andaluza GHENOVA y que busca mejorar la detección de defectos en las pistas de despegue y aterrizaje aéreo


Nota

Nuestro centro está colaborando con la empresa andaluza Ontech para el desarrollo de nuevas soluciones para inspecciones de pavimentos. Se trata de una iniciativa enmarcada en el proyecto APIA (Evaluación Automática del Índice de Pavimentos, en inglés Automatic Pavement Index Assesment), que pretende desarrollar un nuevo sistema de inspección que permita mejorar la detección de defectos en las pistas de aterrizaje y despegue de aeropuertos, reduciendo los costes y el tiempo de inspección y aumentando al mismo tiempo la calidad de los registros.

Para ello, CATEC está utilizando las últimas técnicas no destructivas en un sistema de inspección asistida basado en la termografía infrarroja (IRT), un lenguaje de programación de alto nivel y el tratamiento de imágenes, utilizando como lugar de ensayo las instalaciones del Centro de Vuelos Experimentales ATLAS.

El proyecto APIA está liderado por la compañía de ingeniería española Ghenova e integrado también por la empresa MC2 y el centro tecnológico CITIC. APIA es un proyecto co-financiado por el Centro para el Desarrollo Tecnológico Industrial (CDTI) dentro de la convocatoria Feder-Innterconecta 2015.
CATEC colabora con la empresa ONTECH para el desarrollo de nuevas soluciones para inspecciones del pavimento en aeropuertos



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